易科泰關于樣芯（芯體）元素掃描分析系統的應用
- 高分辨率樣芯（芯體）掃描成像分析，全面反映二維密度/質地和化學成分分布
- 巖礦樣芯、海洋湖泊沉積樣芯、樹木年輪樣芯等
- RGB 掃描成像與CT 技術密度掃描成像
- 高光譜掃描成像分析
- XRF 元素掃描分析
- 高通量、非損傷
- 可選配LIBS 元素分析
1、CoreScanner 樣芯密度與元素掃描分析系統
樣芯CT 掃描成像、可見光（RGB）成像、μXRF 元素掃描分析、磁化率掃描分析，用于地質巖礦樣芯、沉積樣芯多功能掃描成像分析。
MultiScanner 在世界上首次同時采用了XRF 元素分析技術和X-射線成像技術（CT）， 可用于樹木、湖海沉積物、泥炭等樣品的密度掃描成像分析和元素分析，高分辨率、高靈敏度，可測量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb 等，其中許多可測至痕量水平以下，對靈敏度和分辨率要求較高的研究尤其適合
3、XRF Scanner 巖礦樣芯元素掃描分析系統
采用XRF、數字 X-射線密度成像和高分辨率數字光學成像技術，非破壞性測量，獲得樣品高分辨率的數碼圖像，然后利用系統軟件對所得圖像和元素信息進行分析，可對樣芯一次性掃描分析從 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素） 濃度及分布。
5、SisuSCS 單樣芯高光譜成像掃描分析系統
可對單個巖礦樣芯、沉積樣芯或其它芯體材料進行高光譜成像分析（VNIR 可見光近紅外波段或SWIR 短波紅外波段），芯體大小可達 130x1500x75mm
6、SisuROCK 多樣芯高通量高光譜成像掃描分析系統
集高分辨率可見光、VISIR（可見光近紅外波段）、SWIR（短波紅外）、MWIR（中波紅外）及LWIR（長波紅外）高光譜成像分析技術，高通量、非損傷巖礦分析工作站
Specim 高光譜成像技術、易科泰集成高光譜成像自動推掃平臺，客戶定制、高性價比， 可選配RGB 成像、紅外熱成像、中波紅外成像、短波紅外成像、多光譜成像等，用于巖礦芯體分析、年輪分析、植物生化分析、材料品質檢測、食品檢測等，可選配LIBS 元素分析系統，還可客戶定制原位（in-situ）高光譜掃描分析系統。
高光譜成像技術、XRF技術、LIBS技術，易科泰生態技術公司提供樣芯掃描成像分析全面解決方案！
綜合利用高光譜成像技術、XRF 樣芯掃描分析技術、LIBS 技術應用案例（引自：Isabel Cecilia Contreras Acosta,etc. A Machine Learning Framework for Drill-Core Mineral Mapping Using Hyperspectral and High-resolution Mineralogical Data Fusion. 2019 IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing）
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