http://www.leica-microsystems.com/science-lab/digital-microscopy-with-versatile-illumination-and-various-contrast-methods-for-more-efficient-inspection-and-quality-control/

帶通用照明裝置和多種反差方法的數碼顯微鏡令檢測與質控更高效

帶一體化環形光或同軸照明系統的 Leica DVM6 應用示例

 James DeRose 博士¹  Georg Schlaffer¹

 ¹徠卡顯微系統

2015 年 6 月 3 日

目前最先進的數碼顯微鏡，例如，Leica DVM6，運用了通用照明系統，該系統能夠實現多種反差觀察法，這對檢測、質控和失效分析是非常有用的。這些反差觀察法能夠令用戶更輕松、更快速地檢測產品或部件表面上的瑕疵或缺陷。本文將列舉示例，探討現代化數碼顯微鏡是如何令檢測、質控和失效分析等工作更高效的。

利用 Leica DVM6 通過不同照明反差觀察法，獲取鍍錫銅引線框架修切沿口（橫截面）的不同圖像（簡略插圖）：A) 全環形光；B) 起偏鏡開啟時的同軸光源；C) 浮雕反差法和起偏鏡開啟時的同軸光源；D) 起偏鏡關閉時的同軸光源。上述圖像展示了錫涂抹大部分銅表面的不同反差情況，針孔破裂且能看到銅材料的底部除外。

利用 Leica DVM6 通過不同的照明反差觀察法，記錄金屬浮雕銅版紙圖像（簡略插圖）：A) 全環形光；B) 1/4 環形光；C) 起偏鏡開啟時的同軸光源；D) 起偏鏡關閉時的同軸光源。1/4 環形光（圖像 B）和起偏鏡開啟時的同軸光源（圖像 C）能夠增強浮雕效果，而起偏鏡關閉時的同軸光源（圖像 D）則能夠突出瑕疵或污染。

本文提供德語版本：Effizientere Inspektion und Qualitätskontrolle durch vielseitige Beleuchtungsvarianten in der Digitalmikroskopie

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在工業化生產中，加快檢測和質控程序的速度是非常關鍵的。如果通過不同類型的照明和反差觀察法增強產品的外觀顯示，即可輕松發現或檢測出所關注的產品特征，從而縮短檢測和試驗耗時。數碼顯微鏡領域的最新發展技術，已經利用照明反差觀察法，引領檢測和質控工作走上了實用、高效之路。

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