明美金相顯微鏡MJ33應用于光纖結構檢測

細如頭發(fā)絲大小的光纖，是信息化時代的基礎。上海理工大學的老師想要觀察人工加工過的的光纖的橫斷面的結構是否符合設計要求，急需金相顯微鏡幫忙檢測。明美上海的區(qū)域工程師為其推薦了明美金相顯微鏡MJ33，方案成熟，性能優(yōu)異，使用方便，操作簡單。

光纖的纖芯直徑在幾微米到幾十微米之間，細小脆弱，某條光纖的結構是否有損壞，加工過的的光纖的橫斷面的結構是否符合老師預期的要求，我們用肉眼難以檢測出來，因此，需要更好的檢測手段。明美金相顯微鏡MJ33用于光纖的檢測，視場大、成像清晰且對比度好。同時配備透反射光源、兼容明場、暗場和偏光三種不同的觀察方式對光纖結構進行觀察檢測，檢測效果更佳。并且搭配明美2100萬高分辨率、 4/3英寸大靶面芯片的顯微數字相機MSX11，針對顯微鏡拍攝場景特別優(yōu)化，準確還原光纖在不同觀察方式下的精細結構和真實色彩，光纖結構細節(jié)清晰可見。
 

MJ33+MSX11明場觀察光纖樣品
 

MJ33+MSX11暗場觀察光纖樣品
 

MJ33+MSX11偏光觀察光纖樣品
 

金相顯微鏡MJ33采用無限遠光學系統(tǒng)及模塊化功能設計，長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。 內置可切換偏光觀察裝置，可實現(xiàn)偏光觀察。上光源采用翻蓋式12V、50W鹵素燈箱，更換燈炮便捷，下光源采用12V、30W鹵素燈，加裝散熱片。 三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可100%通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉末及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、電子工程學等研究的理想儀器。