IR-2雙波段發射率測量儀是中科院科研人員在獲國家發明專利ZL 91107415“一種現場測量發射率的方法”研究，以及獲市1997年科技進步二等獎“一種高精度測量常溫物體發射率的方法和裝置”和第一代“IR-1發射率測量儀”的基礎上。經不斷改進、研制成功的紅外材料發射率測定專用儀器

一、主要用途

1．軍用武器裝備紅外隱身材料的研究測試。

2．紅外烘烤高發射涂層材料的研究測試。

3．建筑材料、保溫材料及涂層材料及紙張等紅外發射率的研究測試。

4．紡織行業摻雜紅外材料保溫紡織品的發射率研究測試。

5．有關研究部門對紅外輻射特性進行測量研究。

二、儀器特點：

1．設計了專用小型標準黑體輻射源，并采用六位高精度黑體控溫儀(能顯示到1mk)，極大地提高了儀器在測量時的可靠性和穩定性。

2．在測量光路設計中，采用了獨特的光學調制技術，使測量不受被測物表面輻射及環境輻射的影響。

3．考慮到樣品漫反射引起的測量誤差，在儀器設計中，除鏡反射(MR)探測通道外，還增設了專門的漫反射(DR)補償通道，從而確保了儀器的測量精度。

4．在信號及電子學處理技術上采用鎖相技術和微電子技術，較好地實現了對微弱信號的探測，進一步提高了儀器性能。

5．用二塊發射率已知的參考樣板(一塊為鍍鋁低發射率參考板，一塊為銅中發射率參考板)在常溫下對儀器進行校正，并用高發射率的水進行復核(因為水在可見光透明，在紅外波段的發射率高達0.97) 從而確保了儀器的測量精度。

6．對有特殊要求的用戶，還設計了對樣品進行控溫加熱裝置，該裝置放在被測物托盤上，(同時把托盤下調相應高度)，可在常溫～500℃溫度范圍加熱樣品，對樣品發射率進行變溫測量。

7．本儀器帶RS-232串口，每按一次測量鍵E，就發送一次數據，起始位標志AA。

三、主要技術指標

1．測量波段：1～22μm  3～5μm  8～14μm

(若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片)

2．發射率測量范圍：0.1～0.99

3．靈敏度：0.001

4．示值誤差：±0.02 (>0.50)

5．重復性：±0.01

6．樣品溫度：常溫(特殊用戶為常溫～500℃)

7．樣品尺寸：≤ 40 mm

8．測量時間：3秒后按輕觸開關E，即顯示測量值。

9．顯示方法：LED數字顯示，末位0.001

10.電源：交流220V  50HZ

四、幾點說明

1．儀器中的光學鏡頭及紅外探測器的窗口均采用熱壓硒化鋅，其透過波段為0.5～22μm。當黑體溫度為600K時，0～1μm波段能量占總能量的１∕107,  22μm以后的能量占總能量的3.8％。當黑體溫度為520K時，22μm以后的能量占總能量的4.3％。所以，可認為不加濾光片時1～22μm波段的發射率可代表全波段發射率。

2．不同材料有不同的發射率。同一種材料表面狀況不同，其發射率也不同。例如黃銅，拋光表面可作銅鏡，發射率只有0.04；車光表面發射率在0.1～0.2之間；用細沙噴表面發射率可達0.3；用粗沙噴表面發射率可達0.5；氧化發黑后發射率可達0.6以上。

3．被測樣品必須是平面，凸面測量值小，凹面測量值大，黑體就是利用非常凹的面做成的。

4．對粉料必需鋪平整，最好壓平。粉料最好做成涂層，便于在同等表面狀況作配料對比。

5．用車光黃銅表面做載體，均勻涂上被測物可較好測出物質的發射率。涂層厚度以不透載體輻射即可。

五、使用方法

1．黑體控溫： 本儀器測量頭部黑體控溫采用0～400.000℃精密微機控溫儀，其PID調節已設置完畢，請不要隨意更改。測8～14μm波段時, 黑體溫度設定在250℃,功率控制在43％左右，測1～22μm波段時，黑體溫度設定在200℃，功率控制在38％左右，開機后儀器箱右上方上排顯示黑體溫度測量值，下排顯示前一次的設定值。如要改變黑體溫度設定值，您只要輕觸功能鍵，幾秒鐘后，上排顯示窗變為SU符號，下排顯示窗的某一位數開始閃爍，輕觸移位鍵 ﹤，加數鍵△，減數鍵▽，即可按需設定，再按一下鍵，重新設定完成。開機一小時后黑體溫度穩定，即可進行儀器校正。

2．儀器校正：黑體溫度設置在250℃，開機一小時后，加8～14μm濾光片，把鍍鋁的補償參考板置于測試頭正下方托架上，并將參考板上的位置點對準測量頭部直桿的中心位置，等待2分鐘穩定后在行校正。按MR鍵, 其下方指示燈亮，按參考板背面的數值，如鍍鋁板它的發射率為0.05，調節對應的旋扭，應該顯示950，而DR這路信號對它有影響，要按DR的鍵，看其顯示的數值為多少，950減去DR的值，才是我們應該調的值。按E鍵，下方指示燈亮，顯示發射率為0.05。

換成銅參考板，按DR鍵，其下方指示燈亮，按參考板背面的數值，調節對應旋扭，此時也要加上MR的信號，調到需要的值，按E鍵，下方指示燈亮，顯示發射率的值，反復3次。和兩塊參考板的值接近，儀器校正好。

3．樣品測試：把被測樣品置于測量托盤上，3秒鐘后按E鍵，待下方指示燈亮， 即可讀出試樣的發射率值。即為最后8～14μm發射率測量值。

4．不裝濾光片，黑體溫度設定在200℃，功率控制在38％左右，重復2~3步驟，即可測得1～22μm該波段發射率值。

5．裝上3～5μm濾光片，由于該波段黑體輻射量小，必須按步驟1，重新設置黑體溫度為350℃，此時功率限制通過其下方的增減設置在53％左右，待控溫儀穩定后，重復2~3步驟，即可測得該3～5μm波段發射率值。

6．對特殊用戶要對樣品進行加溫測試，則把專用樣品加溫裝置放在測量托架上，并把測量托架下調相應高度。加熱裝置控溫儀為室溫～500℃，溫度設定方法與步驟1同。儀器校正在常溫進行，方法同上。被測樣品放在加熱裝置托盤內，待控制溫度穩定后，即可測出試樣發射率。

六、維護保養

1．本儀器為精密光學儀器，應放置在可靠的工作臺上，周圍應無強烈機械振源。盡可能避免冷、熱風直接吹到測量頭部。

2．光學鏡頭、濾光片、參考板盡量避免灰塵、油漬、汗漬等污染。

3．儀器不要在強白熾燈下使用，否則會有微弱干擾。

4．如打開電源開關后，控溫儀及測量顯示器的數碼管不亮，首先檢查保險絲。儀器的兩個保險絲在電源開關內，把儀器箱上的電源插頭拔下來，用螺絲刀把保險絲盒（印有英文字）向外撥出來檢查。

5．儀器出現故障，請及時與我們聯系，非專業人員請不要擅自拆修。

6．XS12JK電纜插頭使用時要注意：插上時請對準槽口，輕推插頭后部，聽到“咔嚓”聲，即連通好。拆下時，用手捏住插頭前部滑套向外移動即可，不能硬拽插頭后部，否則會造成損壞。

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