953 次TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂層的光譜分析 2024-10-10
飛行時間二次離子質譜( Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ,TOF-SIMS)是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,
1053 次TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀離子源的選擇 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飛行時間二次離子質譜儀的基本組件包括一次離子束,和用于樣品深度剖析的離子束。主離子束被脈沖化以供飛行時間質譜儀進行分析使用。
2432 次直接分析法和離子淌度TOF MS在環境分析中的適用性研究 2014-4-15
Michael McCullagh and Ramesh Rao沃特世公司(英國曼徹斯特) 簡介 自第一臺市售離子淌度質譜儀(SYNAPT HDMS,沃特世公司)面世以來,人們對離子淌度分離的關注持續升溫,該質譜儀以行波方式進
1994 次UPLC-Tof-MSE篩查混合尿液中的常規與新型藥物 2014-4-8
John Archer1,Paul Dargan1,David Wood1,Nayan Mistry2 and Michelle Wood2 1Guy’s and St. Thomas’ NHS信托基金會,臨床毒理學(英國倫敦) 2沃特世公司MS技術中心(英國曼徹斯特) 簡介娛