反射譜成像技術

產地/品牌：SEMLAB

型      號：

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上海波銘科學儀器有限公司

光譜型橢偏儀

產地/品牌：SEMLAB

型      號：

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上海波銘科學儀器有限公司

少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統

產地/品牌：SEMLAB

型      號： WT-2000MCT/μ LBIC

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上海波銘科學儀器有限公司

WT-2000半導體多功能測試

產地/品牌：SEMLAB

型      號： WT-2000

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上海波銘科學儀器有限公司

WT-1200A 單點式少子壽命測試系統

產地/品牌：SEMLAB

型      號： WT-1200A

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上海波銘科學儀器有限公司

高速相位差測量裝置 RE-200

產地/品牌：日本/大塚

型      號： RE-200

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上海波銘科學儀器有限公司

高靈敏度近紅外量子效率測量系統

產地/品牌：日本/大塚

型      號： QE-5000 New

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上海波銘科學儀器有限公司

高感度分光輻射亮度計 HS-1000

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

量子效率測量系統 QE-2100

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

線掃描膜厚儀【離線型】

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

紫外分光配光測量系統

產地/品牌：日本/大塚

型      號：

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上海波銘科學儀器有限公司

紫外分光輻射照度測量系統 New

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

紫外分光全光譜光通量測量系統

產地/品牌：日本/大塚

型      號：

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上海波銘科學儀器有限公司

液晶層間隙量測設備 RETS series

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

橢偏儀 FE-5000/5000S

產地/品牌：日本/大塚

型      號： FE-5000/5000S

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上海波銘科學儀器有限公司

總光譜光通量測量系統 HM/FM series

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSZneoSE

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

Load Port對應膜厚測量系統 GS-300

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

高速LED光學特性儀 LE series

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

膜厚量測儀 FE-300

產地/品牌：日本/大塚

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