飛納電鏡展位號：B047

我們誠邀您與飛納電鏡一起參加中國國際粉末冶金及硬質合金展覽會，探討最新的臺式掃描電鏡技術與行業解決方案。

1. Phenom ParticleX 全自動掃描電鏡
 

—— 顆粒分析及過程控制的工業級解決方案

粉末的尺寸、形狀和化學性能對于粉末床的行成、熔池和微觀均質性可能會產生重大影響。ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎，可以全自動對大量粉末顆粒進行快速識別、分析和分類統計，為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。

Ti64 粉末 球形顆粒、衛星球顆粒和變形 / 團聚顆粒

用 ParticleX 對兩批次的 Ti64 粉末顆粒粒度進行統計，獲得粒度分布。并按照設定好的形態規則識別顆粒類型，分離出每種形態類型顆粒的粒徑體積分布。

2. Phenom ProX G6 電鏡能譜一體機
 

快捷，出眾，可靠的電鏡成像分析設備，最佳臺式掃描電子顯微鏡，創新型用戶使用界面，直觀的操作方式，高分辨率背散射電子成像，EDS 能譜一體化設計。高性價比、操作簡便、快速成像的飛納臺式掃描電鏡成為工程師，技術員，研究員以及科教專家觀測微米以及納米結構的首選。

規格參數

· 放大倍數：350,000 X
· 分辨率：優于 6 nm
· 燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲
· 抽真空時間：小于 15 秒
· 探測器：背散射電子探測器（選配二次電子），能譜探測器