LS 13 320 XR ——提供快速、準確和可再現的顆粒粒度分析

中國，上海 —— 2018年10月8日訊 ——貝克曼庫爾特生命科學事業部推出新一代激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR，以滿足制藥和工業領域質量控制和研究應用的嚴苛要求。

貝克曼庫爾特公司已有數十年顆粒表征分析的歷史。作為顆粒產品的重要一員，多波長PIDS專利技術（專利號：4953978；5104221）的激光衍射粒度分析儀LS系列一直是業內的翹楚。

  準確測量細微差異

新一代LS 13 320 XR是一款全自動、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作極簡的干濕兩用粒度分析儀。其采用專利設計的X型對數排布的檢測器陣列，可準確記錄散射光強信號，獲得真實準確的粒度分布。而132枚檢測器更能清晰地區分不同粒度等級間散射光強譜圖的差異，無需預估樣品峰型，無需選擇分析模型，便可輕松準確分析多峰樣品，粒徑測量范圍從10 納米至3,500 微米。

  準確測量納米顆粒

在亞微米范圍，為了從根本上解決傳統方法對亞微米顆粒光強譜圖差異區分差的難點，LS 13 320 XR采用偏振光強度差散射（PIDS）專利技術來分析多波長和多偏振下的樣品，不僅可以真正實現小至10納米的顆粒測量，而且還可以直接檢測亞微米范圍內的多峰分布，獲得亞微米范圍內更高的分辨率和準確性。

  極簡操作

ADAPT操作軟件，不僅界面更加直觀，而且增加了觸摸屏技術，非常易于使用，無需操作經驗，簡單三步輕松獲得準確的數據。醒目的導航輪，僅需一步便可完成數據的顯示和導出。而為了更迅速的了解樣品質量情況，軟件可自動對測量結果標注綠色或紅色，實現自動合格/不合格管理，直接質控。