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飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）：元素分析技術(shù)服務(wù) 索取資料

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簡介	飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）具有10-6級的檢出限，高的質(zhì)量分辨率及優(yōu)異的同位素分辨能力，以及幾種不同的操作模式，適用于：深度剖析、芯片污染分析、元素摻雜濃度檢測、樣品的表面異物分析等
銷售商	杭州微源檢測技術(shù)有限公司

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